Z przyjemnością informujemy o uzyskaniu patentu nr PL 250483 B1, dotyczącego nowatorskiego sposobu bezkontaktowego pomiaru temperatury obiektów, niezależnie od ich emisyjności, współczynnika odbicia i transmisji promieniowania podczerwonego.
Twórcami opatentowanego rozwiązania są:
dr hab. inż. Robert Olbrycht z Instytutu Elektroniki Politechniki Łódzkiej, 👏
dr hab. inż. Maciej Jaskulski z Katedry Inżynierii Środowiska Politechniki Łódzkiej, 👏
dr inż. Marcin Piątkowski z Katedry Inżynierii Środowiska Politechniki Łódzkiej. 👏
💡 Istota innowacyjnego rozwiązania:
Tradycyjne metody pomiaru temperatury z wykorzystaniem kamer termowizyjnych i pirometrów wymagają znajomości emisyjności badanego materiału. Jej nieznana lub zmienna wartość może znacząco wpływać na dokładność pomiaru. Opracowana metoda pozwala wyeliminować ten problem! Wykorzystuje specjalną komorę pomiarową o regulowanej, jednorodnej temperaturze ścian. Temperatura komory jest dostrajana aż do momentu, gdy sygnał promieniowania podczerwonego badanego obiektu staje się identyczny z sygnałem pochodzącym od wnętrza komory. Wówczas temperatura jej ścian odpowiada temperaturze badanego obiektu.
🚀 Najważniejsze zalety opracowanej metody:
Nie wymaga znajomości emisyjności badanego obiektu.
Eliminuje wpływ współczynnika odbicia i transmisji promieniowania.
Nie wymaga nanoszenia znaczników referencyjnych ani malowania powierzchni.
Nie wymaga stosowania spektrometrów ani modyfikacji kamer termowizyjnych czy pirometrów.
🔧 Potencjalne zastosowania wynalazku obejmują m.in. pomiary temperatury cieczy, materiałów sypkich, obiektów ruchomych, elementów elektronicznych (np. tranzystorów), a także powierzchni o niejednorodnej lub zmiennej emisyjności.
👏 Serdecznie gratulujemy twórcom patentu! Życzymy dalszych sukcesów naukowych i kolejnych innowacyjnych rozwiązań!